搜索
400-818-0021 发布求助
行业专栏： 材料分析 医疗器械 电子电气 汽车 医药

官方微信

您当前的位置：首页 > 华东光电集成器件研究所计量测试中心 > 半导体集成电路外壳中间歇寿命检测

  • 华东光电集成器件研究所计量测试中心

  • 安徽省蚌埠市

咨询电话:400-818-0021

免费发布检测需求

登陆查看更多联系方式

机构的其他服务

半导体集成电路外壳中间歇寿命检测

  • 样品名称：半导体集成电路外壳

  • 检测项目：间歇寿命

  • 认可资质：CNAS CMA

  • 检测标准：微电子器件试验方法和程序　 GJB548B-2005方法1005.1

  • 所属行业分类：电子电气 > 环境试验 >

  • 标签： 间歇寿命 半导体集成电路外壳

半导体集成电路外壳相关热点检测

半导体集成电路外壳中间歇寿命更多检测机构

关于我们  联系我们  营业执照  全国服务电话：400-818-0021  嘉峪检测版权所有  备案号：京ICP备14047019号-2