您当前的位置:首页 > 华东光电集成器件研究所计量测试中心 > 半导体集成电路外壳中间歇寿命检测

  • 华东光电集成器件研究所计量测试中心

  • 安徽省蚌埠市

咨询电话:400-818-0021

免费发布检测需求

登陆查看更多联系方式

半导体集成电路外壳中间歇寿命检测

  • 样品名称:半导体集成电路外壳

  • 检测项目:间歇寿命

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:微电子器件试验方法和程序  GJB548A-1996方法1006

  • 所属行业分类:电子电气 > 环境试验 >

  • 标签: 间歇寿命 半导体集成电路外壳

半导体集成电路外壳中间歇寿命更多检测机构