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华东光电集成器件研究所计量测试中心
安徽省蚌埠市
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样品名称:半导体集成电路外壳
检测项目:静电放电敏感度
认可资质:CNAS CMA
检测标准:电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996 方法302
所属行业分类:电子电气 > 环境试验 >
标签: 静电放电敏感度 半导体集成电路外壳