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半导体集成电路外壳中静电放电敏感度检测

  • 样品名称:半导体集成电路外壳

  • 检测项目:静电放电敏感度

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1016

  • 所属行业分类:电子电气 > 环境试验 >

  • 标签: 静电放电敏感度 半导体集成电路外壳

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