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华东光电集成器件研究所计量测试中心
安徽省蚌埠市
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样品名称:半导体集成电路外壳
检测项目:静电放电敏感度
认可资质:CNAS CMA
检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1016
所属行业分类:电子电气 > 环境试验 >
标签: 静电放电敏感度 半导体集成电路外壳