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微电子器件中扫描电子显微技术和电子束显微分析检测

  • 样品名称:微电子器件

  • 检测项目:扫描电子显微技术和电子束显微分析

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006

  • 所属行业分类:电子电气

  • 标签: 扫描电子显微技术和电子束显微分析 微电子器件

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