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微电子器件中X射线照相检测

  • 样品名称:微电子器件

  • 检测项目:X射线照相

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883H-2010 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析方法 MIL-STD-1580

  • 所属行业分类:电子电气

  • 标签: X射线照相 微电子器件

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