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中兴通讯股份有限公司材料实验室
广东省深圳市
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样品名称:微电子器件
检测项目:X射线照相
认可资质:CNAS CMA
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883H-2010 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析方法 MIL-STD-1580
所属行业分类:电子电气
标签: X射线照相 微电子器件