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中兴通讯股份有限公司材料实验室
广东省深圳市
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样品名称:发光二极管
检测项目:X射线检查
认可资质:CNAS CMA
检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析方法MIL-STD-1580B
所属行业分类:电子电气
标签: X射线检查 发光二极管