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微电子器件中结构缺陷的X射线检查检测

  • 样品名称:微电子器件

  • 检测项目:结构缺陷的X射线检查

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电子器件试验方法标准 MIL-STD 883H-2010

  • 所属行业分类:电子电气

  • 标签: 结构缺陷的X射线检查 微电子器件

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