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微电子器件中结构缺陷的声学扫描显微镜检查检测

  • 样品名称:微电子器件

  • 检测项目:结构缺陷的声学扫描显微镜检查

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:非气密封装电子元件用声波显微镜检查方法 IPC/JEDEC J-STD-035-1999 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析方法 MIL-STD 1580B-2010

  • 所属行业分类:电子电气

  • 标签: 结构缺陷的声学扫描显微镜检查 微电子器件

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