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微电子器件中输入低电平电流IIL检测

  • 样品名称:微电子器件

  • 检测项目:输入低电平电流IIL

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 (GB 3439-1982)

  • 所属行业分类:电子电气 > 电子元件检测 >

  • 标签: 输入低电平电流IIL 微电子器件

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