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集成电路/微电子器件中两个或三个引出端之间电测试检测

  • 样品名称：集成电路/微电子器件

  • 检测项目：两个或三个引出端之间电测试

  • 认可资质：CNAS CMA

  • 检测标准：微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

  • 所属行业分类：电子电气

  • 标签： 两个或三个引出端之间电测试 集成电路/微电子器件

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