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中国电子科技集团公司第二十九研究所检测实验室
四川省成都市
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样品名称:电子元器件
检测项目:温度冲击
认可资质:CNAS CMA
检测标准:半导体分立元器件试验方法 GJB128A-1997 方法1031、1032
所属行业分类:
标签: 温度冲击 电子元器件