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正电子发射及X射线计算机断层成像系统中4.1.4计数率特性检测

  • 样品名称:正电子发射及X射线计算机断层成像系统

  • 检测项目:4.1.4计数率特性

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:YY/T0829-2011 《正电子发射及X射线计算机断层成像系统性能和试验方法》

  • 服务地点:北京市

  • 适用范围:医疗器械

  • 标签: 正电子发射及X射线计算机断层成像系统 4.1.4计数率特性 YY/T0829-2011 《正电子发射及X射线计算机断层成像系统性能和试验方法》

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