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单光子发射及X射线计算机断层成像系统中在75ks-1处固有泛源非均匀性检测

  • 样品名称:单光子发射及X射线计算机断层成像系统

  • 检测项目:在75ks-1处固有泛源非均匀性

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:YY/T1408-2016 单光子发射及X射线计算机断层成像系统性能和试验方法

  • 服务地点:北京市

  • 适用范围:医疗器械

  • 标签: 单光子发射及X射线计算机断层成像系统 在75ks-1处固有泛源非均匀性 YY/T1408-2016 单光子发射及X射线计算机断层成像系统性能和试验方法

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