国家材料分析检测中心
刘工
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第三方商业检测机构
北京市
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样品名称：微电子材料
检测项目：碳化硅单晶片厚度和总厚度变化
认可资质：其它
检测标准：GB/T30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
服务地点：北京市
适用范围：材料分析
标签： 微电子材料 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化 GB/T30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
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