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微电子材料中硅片电阻率检测

  • 样品名称:微电子材料

  • 检测项目:硅片电阻率

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:GB/T6616-2009 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法

  • 服务地点:北京市

  • 适用范围:材料分析

  • 标签: 微电子材料 硅片电阻率 GB/T6616-2009 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法

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