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硅单晶切割片和研磨片中径向电阻率变化检测

  • 样品名称:硅单晶切割片和研磨片

  • 检测项目:径向电阻率变化

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:GB/T12965-2005 硅单晶切割片和研磨片

  • 服务地点:北京市

  • 适用范围:材料分析

  • 标签: 硅单晶切割片和研磨片 径向电阻率变化 GB/T12965-2005 硅单晶切割片和研磨片

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