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微电子材料中碳化硅单晶抛光片表面粗糙度检测

  • 样品名称:微电子材料

  • 检测项目:碳化硅单晶抛光片表面粗糙度

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:SJ/T11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法

  • 服务地点:北京市

  • 适用范围:材料分析

  • 标签: 微电子材料 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度 SJ/T11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法

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