国家材料分析检测中心
刘工
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北京市
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样品名称:锑化铟单晶片
检测项目:位错密度
认可资质:其它
检测标准:SJ20640-1997 红外探测器用锑化铟单晶片规范
服务地点:北京市
适用范围:材料分析
标签: 锑化铟单晶片 位错密度 SJ20640-1997 红外探测器用锑化铟单晶片规范
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