中国航天科技集团公司检测中心
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样品名称：半导体集成电路
检测项目：X射线照相
认可资质：CNAS
检测标准：半导体集成电路总规范GJB597B-2012
服务地点：北京市
适用范围：电子电气
标签： 半导体集成电路 X射线照相 半导体集成电路总规范GJB597B-2012
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