国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：半导体器件分立器件和集成电路
检测项目：标志耐久性
认可资质：CNAS
检测标准：半导体器件分立器件和集成电路总规范GB/T 4589.1-2006 idt IEC 60747-10:1991
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 半导体器件分立器件和集成电路 标志耐久性 半导体器件分立器件和集成电路总规范GB/T 4589.1-2006 idt IEC 60747-10:1991
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