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数字集成电路中MOS电路延迟时间和转换时间检测

  • 样品名称:数字集成电路

  • 检测项目:MOS电路延迟时间和转换时间

  • 认可资质:CNAS

  • 检测标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 idt IEC 748-2:1985

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 数字集成电路 MOS电路延迟时间和转换时间 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 idt IEC 748-2:1985

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