国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：集成电路
检测项目：单片电路试验方法
认可资质：CNAS
检测标准：《半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击》 IEC 60749-10：2002
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 集成电路 单片电路试验方法 《半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击》 IEC 60749-10：2002
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