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集成电路中单片电路试验方法检测

  • 样品名称:集成电路

  • 检测项目:单片电路试验方法

  • 认可资质:CNAS

  • 检测标准:《半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分:塑封表面安装器件的耐湿和耐焊接热》 IEC 60749-20:2009

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 集成电路 单片电路试验方法 《半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分:塑封表面安装器件的耐湿和耐焊接热》 IEC 60749-20:2009

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