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集成电路中单片电路试验方法检测

  • 样品名称:集成电路

  • 检测项目:单片电路试验方法

  • 认可资质:CNAS

  • 检测标准:《半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分:引线牢固性引线强度)》 IEC 60749-14:2010

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 集成电路 单片电路试验方法 《半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分:引线牢固性引线强度)》 IEC 60749-14:2010

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