国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称:塑封半导体集成电路
检测项目:扫描电子显微镜检查
认可资质:CNAS
检测标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006
服务地点:全国
适用范围:电子电气
标签: 塑封半导体集成电路 扫描电子显微镜检查 军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006
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