国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：电子组件失效分析
检测项目：半破坏性分析
认可资质：CNAS
检测标准：电子组件失效分析程序与方法FX01-JE2-5-2010微电子器件试验方法和程序GJB 548 B-2005
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 电子组件失效分析 半破坏性分析 电子组件失效分析程序与方法FX01-JE2-5-2010微电子器件试验方法和程序GJB 548 B-2005
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