国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：半导体分立器件环境试验
检测项目：机械冲击
认可资质：CNAS
检测标准：《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997方法 2016
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 半导体分立器件环境试验 机械冲击 《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997方法 2016
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