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半导体分立器件环境试验中机械冲击检测

  • 样品名称:半导体分立器件环境试验

  • 检测项目:机械冲击

  • 认可资质:CNAS

  • 检测标准:《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997方法 2016

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体分立器件环境试验 机械冲击 《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997方法 2016

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