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半导体分立器件寿命评价试验中老炼试验检测

  • 样品名称:半导体分立器件寿命评价试验

  • 检测项目:老炼试验

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1038、1039、1040

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体分立器件寿命评价试验 老炼试验 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1038、1039、1040

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