国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：半导体分立器件（失效分析）
检测项目：芯片剪切强度
认可资质：其它
检测标准：半导体分立器件失效分析方法和程序 GJB 3157-1998 4007方法
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 半导体分立器件（失效分析） 芯片剪切强度 半导体分立器件失效分析方法和程序 GJB 3157-1998 4007方法
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