国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称:半导体集成电路外壳
检测项目:镀层厚度
认可资质:其它
检测标准:金属镀覆层厚度测量方法 SJ 20129-1992 方法201
服务地点:全国
适用范围:电子电气
标签: 半导体集成电路外壳 镀层厚度 金属镀覆层厚度测量方法 SJ 20129-1992 方法201
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