国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：半导体分立器件外壳
检测项目：镀层厚度
认可资质：其它
检测标准：SJ20129-1992 金属镀覆层厚度测量方法
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 半导体分立器件外壳 镀层厚度 SJ20129-1992 金属镀覆层厚度测量方法
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