国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：锑化铟单晶片
检测项目：抛光片厚度
认可资质：其它
检测标准：SJ20640-1997 红外探测器用锑化铟单晶片规范
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 锑化铟单晶片 抛光片厚度 SJ20640-1997 红外探测器用锑化铟单晶片规范
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