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锑化铟单晶片中表面粗糙度检测

  • 样品名称:锑化铟单晶片

  • 检测项目:表面粗糙度

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:SJ20640-1997 红外探测器用锑化铟单晶片规范

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 锑化铟单晶片 表面粗糙度 SJ20640-1997 红外探测器用锑化铟单晶片规范

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