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多芯片模块中晶片剪切应力试验检测

  • 样品名称:多芯片模块

  • 检测项目:晶片剪切应力试验

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:车用多芯片模块可靠性测试 AEC-Q104-Rev:2017 表1 测试组 G7

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 多芯片模块 晶片剪切应力试验 车用多芯片模块可靠性测试 AEC-Q104-Rev:2017 表1 测试组 G7

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