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固态盘/嵌入式存储芯片中温度冲击试验检测

  • 样品名称:固态盘/嵌入式存储芯片

  • 检测项目:温度冲击试验

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化 GB/T 2423.22-2012

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 固态盘/嵌入式存储芯片 温度冲击试验 环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化 GB/T 2423.22-2012

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