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混合集成电路(含多芯片组件)中扫描电子显微镜(SEM)检查检测

  • 样品名称:混合集成电路(含多芯片组件)

  • 检测项目:扫描电子显微镜(SEM)检查

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法 2018.2

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 混合集成电路(含多芯片组件) 扫描电子显微镜(SEM)检查 微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法 2018.2

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