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BIOS芯片中启动阶段故障核隔离检测

  • 样品名称:BIOS芯片

  • 检测项目:启动阶段故障核隔离

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:计算机基本输入输出系统(BIOS)测试方法 第2部分:服务器 T/CESA 1217-2022 6.6.2

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: BIOS芯片 启动阶段故障核隔离 计算机基本输入输出系统(BIOS)测试方法 第2部分:服务器 T/CESA 1217-2022 6.6.2

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