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半导体器件集成电路存储器中输出高阻态电流IOZH检测

  • 样品名称:半导体器件集成电路存储器

  • 检测项目:输出高阻态电流IOZH

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 2.4

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体器件集成电路存储器 输出高阻态电流IOZH 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 2.4

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