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半导体光电耦合器中反向电流IR检测

  • 样品名称:半导体光电耦合器

  • 检测项目:反向电流IR

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法 GB/T15651.3-2003 4.1

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体光电耦合器 反向电流IR 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法 GB/T15651.3-2003 4.1

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