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半导体集成电路模拟开关中关断时间toff检测

  • 样品名称:半导体集成电路模拟开关

  • 检测项目:关断时间toff

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T14028-2018 5.8

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体集成电路模拟开关 关断时间toff 半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T14028-2018 5.8

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