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半导体集成电路微处理器及外围接口电路中动态条件下的总电源电流检测

  • 样品名称:半导体集成电路微处理器及外围接口电路

  • 检测项目:动态条件下的总电源电流

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 /第IV篇 第3节 1

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体集成电路微处理器及外围接口电路 动态条件下的总电源电流 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 /第IV篇 第3节 1

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