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电子半导体产品中早期寿命失效率检测

  • 样品名称:电子半导体产品

  • 检测项目:早期寿命失效率

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:基于早期寿命失效率失效机制的汽车多芯片模块应力测试鉴定 AEC-Q104-Rev-2017 附录2 MCM早期寿命故障率(ELFR)

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 电子半导体产品 早期寿命失效率 基于早期寿命失效率失效机制的汽车多芯片模块应力测试鉴定 AEC-Q104-Rev-2017 附录2 MCM早期寿命故障率(ELFR)

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