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密封半导体集成电路中粒子碰撞噪声检测检测

  • 样品名称:密封半导体集成电路

  • 检测项目:粒子碰撞噪声检测

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1101第2.4条

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 密封半导体集成电路 粒子碰撞噪声检测 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1101第2.4条

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