国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称:半导体集成电路(失效分析)
检测项目:密封性试验
认可资质:其它
检测标准:GJB3233-1998 半导体集成电路失效分析程序和方法
服务地点:全国
适用范围:电子电气
标签: 半导体集成电路(失效分析) 密封性试验 GJB3233-1998 半导体集成电路失效分析程序和方法
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