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半导体集成电路中粒子碰撞噪声检测(PIND)检测

  • 样品名称:半导体集成电路

  • 检测项目:粒子碰撞噪声检测(PIND)

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体集成电路失效分析程序和方法   GJB3233-1998   5.2.7

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体集成电路 粒子碰撞噪声检测(PIND) 半导体集成电路失效分析程序和方法   GJB3233-1998   5.2.7

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