国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：塑封半导体集成电路
检测项目：内部目检
认可资质：其它
检测标准：专用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1103/2.5
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 塑封半导体集成电路 内部目检 专用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1103/2.5
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