• 国家电子电器产品检测中心

  • 刘工

  • 010-68215798

  • 第三方商业检测机构

我要咨询

嘉峪客服中心:400-818-0021

半导体分立器件中X射线照相检测

  • 样品名称:半导体分立器件

  • 检测项目:X射线照相

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法2076

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体分立器件 X射线照相 半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法2076

一键咨询