样品名称：半导体集成电路-CMOS电路

检测项目：输出由高电平到低电平传输延迟时间(tPHL)

认可资质：其它

检测标准：半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第3节 方法4.1.2

服务地点：全国

适用范围：电子电气

标签： 半导体集成电路-CMOS电路 输出由高电平到低电平传输延迟时间(tPHL) 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第3节 方法4.1.2