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半导体集成电路-CMOS电路中输出由高电平到低电平传输延迟时间(tPHL)检测

  • 样品名称:半导体集成电路-CMOS电路

  • 检测项目:输出由高电平到低电平传输延迟时间(tPHL)

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第3节 方法4.1.2

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体集成电路-CMOS电路 输出由高电平到低电平传输延迟时间(tPHL) 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第3节 方法4.1.2

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