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半导体集成电路-存储器中输入低电平电流(IIL)检测

  • 样品名称:半导体集成电路-存储器

  • 检测项目:输入低电平电流(IIL)

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2节 方法2

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体集成电路-存储器 输入低电平电流(IIL) 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2节 方法2

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